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      E-mail: zyyq2008@163.com

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      詳細資料

      德國EPK 涂層測厚儀Minitest3100 蘇州特約店

      MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
      所有型號均可配所有探頭;
      可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
      可使用一片或二片標準箔校準。

      EPK涂鍍層測厚儀MiniTest3100技術特征:

      型號1100210031004100
      MINITEST 存儲的數據量
      應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)111099
      每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,并可設寬容度極限值)1500
      可用各自的日期和時間標識特性的組數1
      數據總量100001000010000
      MINITEST統計計算功能
      讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar
      讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
      組統計值六種x,s,n,max,min,kvar
      組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
      存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據
      分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值
      顯示并打印測量值、打印的日期和時間
      其他功能
      設置極限值
      連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值
      連續測量模式中測量穩定后顯示讀數
      連續測量模式中顯示zui小值

      EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數:

      所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的
      形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
      F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
      N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
      FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

      探頭

      量程

      低端
      分辨率

      誤差

      zui小曲率半徑
      (凸/凹)

      zui小測量
      區域直徑

      zui小基
      體厚度

      探頭尺寸




      F05

      0-500μm

      0.1μm

      ±(1%±0.7μm)

      1/5mm

      3mm

      0.2mm

      φ15x62mm

      F1.6

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      0.5mm

      φ15x62mm

      F1.6/90

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      平面/6mm

      5mm

      0.5mm

      φ8x8x170mm

      F2/90

      0-2000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      平面/6mm

      5mm

      0.5mm

      φ8x8x170mm

      F3

      0-3000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      0.5mm

      φ15x62mm

      F10

      0-10mm

      5μm

      ±(1%±10μm)

      5/16mm

      20mm

      1mm

      φ25x46mm

      F20

      0-20mm

      10μm

      ±(1%±10μm)

      10/30mm

      40mm

      2mm

      φ40x66mm

      F50

      0-50mm

      10μm

      ±(3%±50μm)

      50/200mm

      300mm

      2mm

      φ45x70mm


      FN1.6

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      F0.5mm/N50μm

      φ15x62mm

      FN1.6P

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      平面

      30mm

      F0.5mm/N50μm

      φ21x89mm

      FN2

      0-2000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      F0.5mm/N50μm

      φ15x62mm




      N02

      0-200μm

      0.1μm

      ±(1%±0.5μm)

      1/10mm

      2mm

      50μm

      φ16x70mm

      N.08Cr

      0-80μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      2.5mm

      2mm

      100μm

      φ15x62mm

      N1.6

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      2mm

      50μm

      φ15x62mm

      N1.6/90

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      平面/10mm

      5mm

      50μm

      φ13x13x170mm

      N2

      0-2000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      50μm

      φ15x62mm

      N2/90

      0-2000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      平面/10mm

      5mm

      50μm

      φ13x13x170mm

      N10

      0-10mm

      10μm

      ±(1%±25μm)

      25/100mm

      50mm

      50μm

      φ60x50mm

      N20

      0-20mm

      10μm

      ±(1%±50μm)

      25/100mm

      70mm

      50μm

      φ65x75mm

      N100

      0-100mm

      100μm

      ±(1%±0.3mm)

      100mm/平面

      200mm

      50μm

      φ126x155mm

      CN02

      10-200μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      平面

      7mm

      無限制

      φ17x80mm

      F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
      N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
      CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

      EPK涂鍍層測厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭

      FN1.6
      0~1600μm,φ5mm
      兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
      量程低端分辨率很高(O.1μm)
      FN1.6P
      0~1600μm,φ30mm
      兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度
      FN2
      0~2000μm,φ5mm
      兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
      F05
      0~500μm,φ3mm
      磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
      量程低端分辨宰很高(O.1μm)
      F1.6
      0~1600μm,φ5mm
      磁性測頭
      量程低端分辨率很高(O.1μm)
      F3
      0~3000μm,φ5mm
      磁性測頭
      可用于較厚的覆層
      F1.6/90
      0~1600μm,φ5mm
      90度磁性測頭
      尤其適合于在管內壁測量
      量程低端分辨率很高(O.1μm)
      F2/90
      0~2000μm,φ5mm
      90度磁性測頭
      尤其適合于在管內壁測量
      F10
      0~10mm,φ20mm
      適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
      如玻璃、塑膠、混凝土等
      F20
      0~20mm,φ40mm
      適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
      如玻璃、塑膠、混凝土等
      F50
      0~50mm,φ300mm
      適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
      N02
      0~200μm,φ2mm
      非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
      量程低端分辨率很高(O.1μm)
      N0.8Cr
      0~80μm,φ2mm
      適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
      N1.6
      0~1600μm,φ2mm
      非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
      量程低端分辨率很高(O.1μm)
      N2
      0~2000μm,φ5mm
      非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
      N1.6/90
      0~1600μm,φ5mm
      磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
      尤其適合在管內壁測量
      量程低端分辨率很高(O.1μm)
      N2/90
      0~2000μm,φ5mm
      磁性測頭, 尤其適合在管內壁測量
      N10
      0~10mm,φ50mm
      非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
      N20
      0~20mm,φ70mm
      非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
      N100
      0~100mm,200mm
      非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
      CN02
      10~200μm,φ7mm
      用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

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